ฉันเพิ่งซื้อSSD ราคาถูกจริง ๆ ($ 25.99) และฉันก็เปิดกรณีออกมาด้วยความอยากรู้

ชิปแฟลชมีการสลักแถบบนหมายเลขชิ้นส่วนซึ่งเป็นสิ่งที่ฉันไม่เคยเห็นมาก่อน

นี่เป็นวิธีมาตรฐานในการทำเครื่องหมายชิปว่าปฏิเสธหรือไม่

แก้ไข: ฉันซื้อสองตัวมาใส่ใน RAID-1 เพราะฉันไม่ไว้ใจพวกเขามากเกินไปและอีกอันมีเครื่องหมายเหมือนกัน:

อันนี้ใช้แฟลชไมครอนถึงแม้ว่าเครื่องหมายจะเหมือนกัน

ณ จุดนี้ฉันสามารถคิดได้ว่ามันต้องเป็นความพยายามที่ไม่มีประสิทธิภาพจริงๆในการซ่อนหมายเลขชิ้นส่วนแฟลช?

ชิ้นส่วนไมครอนเป็นชิ้นส่วนMT29F128G08CBECBH6-12:C16GByte ดังนั้นจึงมีที่เก็บข้อมูลดิบ 64 GB

ส่วนอื่นคือตราสินค้า"Spectek"ซึ่งเห็นได้ชัดว่าเป็น บริษัท ในเครือไมครอนที่ฉันไม่เคยได้ยินมาก่อน ดูเหมือนว่าจะเป็นFBNL95B71KDBABH6-10ALชิ้นส่วน 16 GByte

แก้ไข:

ไดรฟ์ตัวแรกผ่านไปsudo badblocks -b 4096 -c 4096 -s -w /dev/sdmโดยไม่มีข้อผิดพลาดดังนั้นความจุจึงเป็นจริงและดีสำหรับการเขียนอย่างน้อยหนึ่งครั้ง

แก้ไขการแก้ไข:

การแก้ไข: ทั้งสองbadblocksขัดข้อง El-cheapo อะแดปเตอร์ USB-SATA ของฉันหรือพวกเขาทำมีปัญหาบางอย่าง

แก้ไขแก้ไขแก้ไข:

ตกลงวิ่งbadblocksบนไดรฟ์ดูเหมือนจะสับสนดิสก์อย่างน่ากลัว นี่คือรายงาน SMART:

durr@mainnas:/media/Storage/badblocks⟫ sudo smartctl /dev/sdm -a
smartctl 6.2 2013-07-26 r3841 [x86_64-linux-3.13.0-79-generic] (local build)
Copyright (C) 2002-13, Bruce Allen, Christian Franke, www.smartmontools.org

=== START OF INFORMATION SECTION ===
Device Model:     KingDian S200 60GB
Serial Number:    2016022700031
LU WWN Device Id: 0 000000 000000000
Firmware Version: 20150818
User Capacity:    60,022,480,896 bytes [60.0 GB]
Sector Size:      512 bytes logical/physical
Rotation Rate:    Solid State Device
Device is:        Not in smartctl database [for details use: -P showall]
ATA Version is:   ACS-2 (minor revision not indicated)
SATA Version is:  SATA 3.1, 6.0 Gb/s (current: 1.5 Gb/s)
Local Time is:    Sun Mar 20 19:15:31 2016 PDT
SMART support is: Available - device has SMART capability.
SMART support is: Enabled

=== START OF READ SMART DATA SECTION ===
SMART overall-health self-assessment test result: PASSED

General SMART Values:
Offline data collection status:  (0x02) Offline data collection activity
                                        was completed without error.
                                        Auto Offline Data Collection: Disabled.
Self-test execution status:      (   0) The previous self-test routine completed
                                        without error or no self-test has ever
                                        been run.
Total time to complete Offline
data collection:                (    0) seconds.
Offline data collection
capabilities:                    (0x11) SMART execute Offline immediate.
                                        No Auto Offline data collection support.
                                        Suspend Offline collection upon new
                                        command.
                                        No Offline surface scan supported.
                                        Self-test supported.
                                        No Conveyance Self-test supported.
                                        No Selective Self-test supported.
SMART capabilities:            (0x0002) Does not save SMART data before
                                        entering power-saving mode.
                                        Supports SMART auto save timer.
Error logging capability:        (0x01) Error logging supported.
                                        General Purpose Logging supported.
Short self-test routine
recommended polling time:        (   2) minutes.
Extended self-test routine
recommended polling time:        (  10) minutes.

SMART Attributes Data Structure revision number: 1
Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds:
ID# ATTRIBUTE_NAME          FLAG     VALUE WORST THRESH TYPE      UPDATED  WHEN_FAILED RAW_VALUE
  1 Raw_Read_Error_Rate     0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       0
  5 Reallocated_Sector_Ct   0x0002   100   100   050    Old_age   Always       -       0
  9 Power_On_Hours          0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       2
 12 Power_Cycle_Count       0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       6
160 Unknown_Attribute       0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       0
161 Unknown_Attribute       0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       125
162 Unknown_Attribute       0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       1
163 Unknown_Attribute       0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       20
164 Unknown_Attribute       0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       4943
165 Unknown_Attribute       0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       12
166 Unknown_Attribute       0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       1
167 Unknown_Attribute       0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       4
192 Power-Off_Retract_Count 0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       6
194 Temperature_Celsius     0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       40
195 Hardware_ECC_Recovered  0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       0
196 Reallocated_Event_Count 0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       0
199 UDMA_CRC_Error_Count    0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       6
241 Total_LBAs_Written      0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       2857
242 Total_LBAs_Read         0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       72
245 Unknown_Attribute       0x0000   100   100   050    Old_age   Offline      -       9517

Warning! SMART ATA Error Log Structure error: invalid SMART checksum.
SMART Error Log Version: 1
Warning: ATA error count 0 inconsistent with error log pointer 1

ATA Error Count: 0
        CR = Command Register [HEX]
        FR = Features Register [HEX]
        SC = Sector Count Register [HEX]
        SN = Sector Number Register [HEX]
        CL = Cylinder Low Register [HEX]
        CH = Cylinder High Register [HEX]
        DH = Device/Head Register [HEX]
        DC = Device Command Register [HEX]
        ER = Error register [HEX]
        ST = Status register [HEX]
Powered_Up_Time is measured from power on, and printed as
DDd+hh:mm:SS.sss where DD=days, hh=hours, mm=minutes,
SS=sec, and sss=millisec. It "wraps" after 49.710 days.

Error 0 occurred at disk power-on lifetime: 21930 hours (913 days + 18 hours)
  When the command that caused the error occurred, the device was in an unknown state.

  After command completion occurred, registers were:
  ER ST SC SN CL CH DH
  -- -- -- -- -- -- --
  00 03 ff 93 01 00 ce

  Commands leading to the command that caused the error were:
  CR FR SC SN CL CH DH DC   Powered_Up_Time  Command/Feature_Name
  -- -- -- -- -- -- -- --  ----------------  --------------------
  03 00 00 00 00 00 b9 00      00:00:00.288  CFA REQUEST EXTENDED ERROR
  00 00 00 00 00 00 01 00      00:00:00.000  NOP [Abort queued commands]
  00 00 b3 01 18 00 08 00      00:00:00.000  NOP [Abort queued commands]
  00 02 01 00 00 00 00 4c      16:05:33.861  NOP [Reserved subcommand] [OBS-ACS-2]
  03 00 07 00 00 00 ce 00      00:18:34.183  CFA REQUEST EXTENDED ERROR

Error -4 occurred at disk power-on lifetime: 0 hours (0 days + 0 hours)
  When the command that caused the error occurred, the device was active or idle.

  After command completion occurred, registers were:
  ER ST SC SN CL CH DH
  -- -- -- -- -- -- --
  04 51 f0 d0 3e 44 a0  Error: ABRT

  Commands leading to the command that caused the error were:
  CR FR SC SN CL CH DH DC   Powered_Up_Time  Command/Feature_Name
  -- -- -- -- -- -- -- --  ----------------  --------------------
  b0 d0 01 00 4f c2 a0 00      00:00:00.000  SMART READ DATA
  b0 d5 01 01 4f c2 a0 00      00:00:00.000  SMART READ LOG
  b0 d5 01 00 4f c2 a0 00      00:00:00.000  SMART READ LOG
  b0 da 00 00 4f c2 a0 00      00:00:00.000  SMART RETURN STATUS
  b0 d1 01 01 4f c2 a0 00      00:00:00.000  SMART READ ATTRIBUTE THRESHOLDS [OBS-4]

Warning! SMART Self-Test Log Structure error: invalid SMART checksum.
SMART Self-test log structure revision number 1
Num  Test_Description    Status                  Remaining  LifeTime(hours)  LBA_of_first_error
# 1  Extended offline    Completed without error       00%         0         -

Selective Self-tests/Logging not supported

ณ จุดนี้ฉันมีไดรฟ์ประมาณหนึ่งสัปดาห์ ฉันไม่รู้ว่ามันมีข้อผิดพลาดเมื่อ 918 วันก่อน

นอกจากนี้: Error -4. ใช่ฉันไม่คิดว่าบันทึก SMART ควรจะมีจำนวนลบ อ๊ะ?

ณ จุดนี้ถ้าฉันทดสอบไดรฟ์อีกครั้งด้วยแบดบล๊อกอุปกรณ์จะหยุดใช้งานจริงจากนั้นเชื่อมต่อใหม่อีกครั้ง

durr@mainnas:/media/Storage/badblocks⟫ dmesg | tail -n 50
[2048975.197941] sd 12:0:0:0: [sdm] Mode Sense: 28 00 00 00
[2048975.198218] sd 12:0:0:0: [sdm] No Caching mode page found
[2048975.198728] sd 12:0:0:0: [sdm] Assuming drive cache: write through
[2048975.200188] sd 12:0:0:0: [sdm] No Caching mode page found
[2048975.200633] sd 12:0:0:0: [sdm] Assuming drive cache: write through
[2048975.214949]  sdm: unknown partition table
[2048975.215831] sd 12:0:0:0: [sdm] No Caching mode page found
[2048975.216456] sd 12:0:0:0: [sdm] Assuming drive cache: write through
[2048975.216915] sd 12:0:0:0: [sdm] Attached SCSI disk
[2049068.016741] usb 3-5: reset high-speed USB device number 16 using xhci_hcd
[2049068.036966] usb 3-5: device firmware changed
[2049068.037001] usb 3-5: USB disconnect, device number 16
[2049068.040592] scsi 12:0:0:0: rejecting I/O to offline device
[2049068.041057] scsi 12:0:0:0: [sdm] killing request
[2049068.041063] scsi 12:0:0:0: [sdm]
[2049068.041064] Result: hostbyte=DID_NO_CONNECT driverbyte=DRIVER_OK
[2049068.041065] scsi 12:0:0:0: [sdm] CDB:
[2049068.041066] Read(10): 28 00 00 44 3e d0 00 00 f0 00
[2049068.041070] end_request: I/O error, dev sdm, sector 4472528
[2049068.041520] scsi 12:0:0:0: rejecting I/O to offline device
[2049068.041974] scsi 12:0:0:0: [sdm] killing request
[2049068.042017] scsi 12:0:0:0: [sdm]
[2049068.042018] Result: hostbyte=DID_NO_CONNECT driverbyte=DRIVER_OK
[2049068.042018] scsi 12:0:0:0: [sdm] CDB:
[2049068.042019] Read(10): 28 00 00 44 3f c0 00 00 f0 00
[2049068.042022] end_request: I/O error, dev sdm, sector 4472768
[2049068.056652] xhci_hcd 0000:00:14.0: xHCI xhci_drop_endpoint called with disabled ep ffff8801781c3c80
[2049068.056654] xhci_hcd 0000:00:14.0: xHCI xhci_drop_endpoint called with disabled ep ffff8801781c3cc0
[2049068.168511] usb 3-5: new high-speed USB device number 17 using xhci_hcd
[2049068.259417] usb 3-5: New USB device found, idVendor=152d, idProduct=2329
[2049068.259420] usb 3-5: New USB device strings: Mfr=1, Product=2, SerialNumber=5
[2049068.259421] usb 3-5: Product: USB to ATA/ATAPI bridge
[2049068.259422] usb 3-5: Manufacturer: JMicron
[2049068.259423] usb 3-5: SerialNumber: 201602270003
[2049068.291104] usb-storage 3-5:1.0: USB Mass Storage device detected
[2049068.291152] usb-storage 3-5:1.0: Quirks match for vid 152d pid 2329: 8020
[2049068.291179] scsi13 : usb-storage 3-5:1.0
[2049069.322875] scsi 13:0:0:0: Direct-Access     KingDian  S200 60GB       2015 PQ: 0 ANSI: 2 CCS
[2049069.323058] sd 13:0:0:0: Attached scsi generic sg12 type 0
[2049069.384321] sd 13:0:0:0: [sdm] 117231408 512-byte logical blocks: (60.0 GB/55.8 GiB)
[2049069.384601] sd 13:0:0:0: [sdm] Write Protect is off
[2049069.384603] sd 13:0:0:0: [sdm] Mode Sense: 28 00 00 00
[2049069.384868] sd 13:0:0:0: [sdm] No Caching mode page found
[2049069.385353] sd 13:0:0:0: [sdm] Assuming drive cache: write through
[2049069.386764] sd 13:0:0:0: [sdm] No Caching mode page found
[2049069.387311] sd 13:0:0:0: [sdm] Assuming drive cache: write through
[2049069.396568]  sdm: unknown partition table
[2049069.397466] sd 13:0:0:0: [sdm] No Caching mode page found
[2049069.398067] sd 13:0:0:0: [sdm] Assuming drive cache: write through
[2049069.398513] sd 13:0:0:0: [sdm] Attached SCSI disk

กลับไปที่อเมซอนพวกเขาไปฉันเดา ฉันคิดว่าฉันจะดูว่าฉันสามารถโน้มน้าวให้คนอื่นล้มเหลวเช่นกันก่อนที่ฉันจะคืนพวกเขา

แก้ไขแก้ไขแก้ไขแก้ไข:

ใช่ไดรฟ์ที่สองเพียงแค่ crapped ตัวเองเมื่อทดสอบในลักษณะเดียวกัน อ๊ะ?

ฉันส่งอีเมล Ted Netz ผู้จัดการผลิตภัณฑ์แฟลช NAND ที่ SpecTek นี่คือสิ่งที่เขาพูด (ด้วยไวยากรณ์เล็กน้อยและการแก้ไขการจัดรูปแบบ):

สวัสดีอดัม

เราทำเครื่องหมายผลิตภัณฑ์ด้วยวิธีนี้ เป็นชิ้นส่วนประเภทที่เราขายซึ่งอาจมีข้อบกพร่องทางกล แต่มักจะทดสอบด้วยระบบไฟฟ้าได้ดี เราขายเป็นผลิตภัณฑ์ที่มีความเสี่ยงตามที่ได้รับส่วนลดและทำ deface 3 บาร์เพื่อให้ไม่สามารถส่งคืนเป็นอุปกรณ์ที่ดีสำหรับ RMA ข้อบกพร่องทางกลโดยทั่วไปจะไม่ปล่อยให้ผ่านขั้นตอนการสแกนอัตโนมัติของเรา โดยทั่วไปแล้วจะล้มเหลวในการ coplanarity หรืออาจมีลูกที่หายไปหรือถูกทุบ คนเต็มใจที่จะทำใหม่ส่วนและควรจะสอบซ่อมมัน อย่างไรก็ตามเรามักจะแนะนำให้ลูกค้า จำกัด อุปกรณ์เหล่านี้กับแอพ USB หรือแอพระดับต่ำกว่าเท่านั้นเนื่องจากอาจไม่ได้มาตรฐานประสิทธิภาพทั้งหมด เช่นกันเราไม่สามารถควบคุมกระบวนการทำงานซ้ำของลูกค้าดังนั้นเราจะไม่รับประกันอุปกรณ์ดังกล่าวอีกครั้ง

อย่างไรก็ตามมีสิ่งที่แปลกอีกอย่างหนึ่งสำหรับ อักขระพิเศษ H16 62 ไม่ได้เป็นส่วนหนึ่งของแผนการทำเครื่องหมายของเรา เรามีคนลอกเลียนแบบทั้งเครื่องหมายไมครอนและ / หรือเครื่องหมาย SpecTek ในรูปแบบนี้เพื่อส่งผ่านชิ้นส่วนตามต้นฉบับ SpecTek สิ่งที่แปลกสำหรับฉันเช่นกันคืออาลักษณ์ที่อยู่ติดกับเครื่องหมายพินหนึ่ง บนไดรฟ์ที่ระบุว่า SpecTek ฟอนต์นั้นแตกต่างกันไปใน 3 ของเครื่องหมายซึ่งไม่เหมือนกับฟอนต์ Scribe ทั่วไปของไมครอน หวังว่านี่จะช่วยได้

ขอบคุณ - เท็ด

ดังนั้นทั้งสามแท่งจึงเป็นเครื่องหมายที่ถูกต้องสำหรับแฟลชที่ไม่มีการรับประกันความเสี่ยงสูงซึ่งมีข้อบกพร่องทางกล ลูกค้าควรทำงานซ้ำและทดสอบชิปด้วยตนเอง อย่างไรก็ตามตามเครื่องหมายพิเศษดูเหมือนว่าชิปในไดรฟ์ของคุณอาจเป็นของปลอม อาจเป็นเรื่องง่ายกว่าที่จะไปด้วยการปลอมแปลงสินค้าคุณภาพต่ำ

อาจเป็นไปได้ว่าชิปนั้นดี แต่มีข้อผิดพลาดในเครื่องที่พิมพ์เครื่องหมายบนชิป แต่พวกเขายังคงขายและใช้งานอยู่

ฉันเคยเห็นชิปในอุปกรณ์บางอย่างที่มีเครื่องหมายถูกลบออกเพื่อทำให้ IC ไม่สามารถระบุได้ซึ่งฉันสงสัยว่าอาจเป็นความพยายามในการป้องกันการคัดลอกวงจรโดยผู้ผลิต ripoff ราคาถูก (และมือสมัครเล่น DIY ชอบตัวเอง)