คำถามติดแท็ก test

ฉันกำลังแก้ไขเราเตอร์บ้านราคาถูกพิเศษไม่กี่วันที่ผ่านมาและสังเกตว่ามันมีจุดจบที่ทำเครื่องหมายว่า TP_12V, TP_3V3, TP_GND และที่คล้ายกัน ปัญหากลายเป็นตัวดักแด้อิเล็กโทรไลต์ที่รั่วในบั๊กคอนเวอร์เตอร์และจุดอ่อนช่วยแก้จุดบกพร่องได้จริง ๆ แต่นั่นไม่ใช่ประเด็นหลักของคำถามนี้ สิ่งที่ฉันต้องการถามโดยทั่วไปคือมีเหตุผลใดทำไมไม่ใช้จุดแวะเป็นจุดทดสอบ คะแนนทดสอบทั้งหมดที่ฉันเคยเห็นก่อนหน้านี้คือแผ่นทองแดงที่มีประโยชน์ แต่ก็ค่อนข้างยากที่จะใช้เพราะฉันต้องเชื่อมต่อโพรบขอบเขตกับพื้นผิวที่เรียบ จุดอ่อนนี้เป็นเพียงเส้นผ่านศูนย์กลางที่ถูกต้องที่จะเก็บส่วนปลายของมัลติมิเตอร์แบบมาตรฐานหรือโพรบสโคปไว้โดยไม่ต้องใช้เครื่องมือภายนอกใด ๆ ฉันสงสัยว่าจุดแวะจะมีราคาแพงกว่าจุดทดสอบทองแดงทั่วไปเล็กน้อย (แต่อีกครั้งพบได้ในยูนิตย่อย $ 15) และพวกเขาจะมีความทนทานน้อยกว่าแผ่นแบบธรรมดา ฉันสงสัยว่าอุปกรณ์ตะปูที่ใช้สำหรับการทดสอบการผลิตจะต้องแม่นยำกว่านี้เล็กน้อยเพื่อให้ทำงานได้ดี แต่ฉันไม่รู้ว่าจะมีปัญหาใหญ่ขนาดไหน ดังนั้นฉันจึงพลาดเหตุผลใด ๆ ว่าทำไมต้องใช้แผ่นทองแดงแทนจุดแวะสำหรับจุดทดสอบ?

30 test  via  pads  testing 

ขณะนี้ฉันกำลังอยู่ระหว่างการออกแบบ CPU อย่างง่ายใน VHDL โดยใช้ Xilinx ISE และ ISIM ส่วนการออกแบบเป็นไปอย่างน่าทึ่ง แต่ฉันไม่สามารถหาวิธีการตรวจสอบในลักษณะที่สอดคล้องกัน ตอนนี้ฉันมีม้านั่งทดสอบ VHDL ที่ฉันปรับปรุงเพื่อทดสอบฟังก์ชั่นที่ฉันกำลังทำงานอยู่ในช่วงเวลาใดโดยเฉพาะ นี่เป็นแบบเฉพาะกิจและมันก็ไม่ได้ช่วยให้ฉันตรวจสอบการถดถอยและไม่สามารถใช้ตรวจสอบการปฏิบัติตามข้อกำหนด / ชุดคำสั่งได้ ฉันคิดเกี่ยวกับการพัฒนาชุดทดสอบที่กว้างขวาง แต่ปัญหาคือสถานะที่เป็นไปได้ของส่วนวัตถุประสงค์ทั่วไปเนื่องจาก CPU นั้นมีขนาดใหญ่มากเมื่อเปรียบเทียบกับส่วนประกอบทั่วไปที่น้อยกว่า ฉันกำลังมองหาวิธีที่ช่วยให้ฉันสามารถออกแบบและทดสอบในลักษณะที่ควบคุมได้มากกว่า ฮาร์ดแวร์ TDD บางประเภทถ้าคุณต้องการ สิ่งนั้นมีอยู่จริงหรือไม่? สามารถนำไปใช้กับชิ้นส่วนที่ใช้งานทั่วไปเช่น CPU ได้อย่างง่ายดายหรือไม่?

18 fpga  vhdl  cpu  test 

เพื่อนของฉันคนหนึ่งหยิบมันขึ้นมาจากการขายอู่ซ่อมรถซึ่งวิศวกรไฟฟ้าผู้สูงอายุขายเครื่องทดสอบเก่า ๆ จำนวนหนึ่ง มันหายไปจากหน้าจอที่ควรตั้งชื่อว่ามันคืออะไรและเขาก็ทำชื่อ บริษัท และหมายเลขรุ่นให้ทุกคนไม่มีประโยชน์ วิศวกรหลายคนใน บริษัท ของฉันได้ทำการตรวจสอบและจนถึงตอนนี้ฉันทามติดูเหมือนจะเป็นตัวกรองที่ปรับค่าได้ (มันมีสิ่งที่ดูเหมือนจะเป็นตัวเก็บประจุตัวแปรขนาดใหญ่และตัวต้านทานตัวแปรขนาดใหญ่) ฉันสงสัยว่ามีใครบางคนที่นี่เคยเห็นหนึ่งในนั้นมาก่อนหรือไม่และมีความคิดเกี่ยวกับสิ่งที่มันเคยใช้และอาจมีลิงก์ไปยังเอกสารที่เกี่ยวข้อง UPDATE: เพิ่มภาพของการตกแต่งภายในของอุปกรณ์

16 identification  test  equipment 

หนังสือเรียนทุกเล่มที่ฉันเห็นทำให้เป็นเรื่องใหญ่ว่าการทดสอบและการตรวจสอบเป็นแนวคิดที่แตกต่างกันสองประการ ยังไม่มีใครในพวกเขาให้ความแตกต่างที่ชัดเจน (หรือชัดเจนพอที่ฉันในที่สุด) เพื่อให้บริบทบางอย่างฉันสนใจในการตรวจสอบการออกแบบฮาร์ดแวร์ดิจิทัลโดยใช้ภาษาการออกแบบฮาร์ดแวร์ (HDL) ฉันเคยเห็นคำอธิบายบางอย่างที่หันไปใช้ความแตกต่างที่ "จับต้องได้" หรือ "จับต้องได้": ถ้ามันเกี่ยวกับอุปกรณ์ที่ผลิตแล้วนั่นเป็นการทดสอบ นี่เป็นเรื่องราวทั้งหมดหรือไม่? ถ้าเป็นเช่นนั้นทำไมคำว่า "test" ถึงเกิดขึ้นบ่อยครั้งในการตรวจสอบ (โดยเฉพาะอย่างยิ่งในการตรวจสอบการทำงานเราพูดถึง testcase, testbenches, DUT (อุปกรณ์ภายใต้การทดสอบ), การทดสอบโดยตรง, การทดสอบแบบสุ่ม ฯลฯ )

15 vhdl  verilog  test  system-verilog  verification 

ฉันกำลังคิดเกี่ยวกับวิธีที่ฉันสามารถใช้การทดสอบหน่วยในโครงการ mcu ของฉันและกรอบอะไรที่ฉันสามารถใช้เพื่อทำให้มันง่ายขึ้น วันนี้ฉันใช้ stm32 กับ OpenOCD-jtag จากลีนุกซ์พีซีซึ่งมันถูกควบคุมจาก Makefile แบบคลาสสิกและคอมไพล์ด้วย gcc ฉันสามารถสร้างบางสิ่งบางอย่างด้วยตัวเอง แต่ถ้ามีกรอบที่ฉันสามารถใช้มันจะดี (เป็นโบนัสหากกรอบงานสามารถแสดงผลลัพธ์ในรูปแบบที่เจนกินส์ / ฮัดสันสามารถอ่านได้) มีวิธีใช้กรอบการทดสอบหน่วยกับ stm32 หรือไม่?

15 test  openocd 

ดังนั้นคำถามดังต่อไปนี้: "Your mobile HF transceiver draws 22 amperes on transmit. The manufacturer suggester limiting voltage drop to 0.5 volt and the vehicle battery is 3 metres(10 feet) away. Given the losses below at that current, which minimum wire gauge must you use?" และตัวเลือกมีดังนี้: A) Number 8, 0.05 V per metre …

14 voltage  test  ham-radio 

ในมัลติมิเตอร์แบบดิจิตอลมีฟังก์ชั่นตรวจสอบทรานซิสเตอร์และมีคำว่า hFE ฉันไม่ทราบว่าจะใช้อย่างไรอย่างไรก็ตามเว็บไซต์ต่างๆบอกว่าเป็นอัตราการได้รับของทรานซิสเตอร์วัด ("อัตราส่วนของ Ic / Ib") เช่น: https://www.quora.com/What-does -hFE-mean-on-a-multimeter; ฯลฯ . แต่ฉันต้องการที่จะรู้ว่าอะไรคือรูปแบบเต็ม (เต็มชื่อ) ของ hFE?

12 transistors  multimeter  terminology  test 

ฉันมีแร่คริสตัลควอตซ์ 2 ตัวในบอร์ด pcb ของฉัน: 32.768 kHz และ 20 MHz พวกเขาเชื่อมต่อกับ IC transceiver Freescale MC12311 ซึ่งมีไมโครคอนโทรลเลอร์ HCS08 ฝังอยู่ในนั้น ฉันต้องการทดสอบว่าผลึกเหล่านี้ทำงานอย่างถูกต้องหรือไม่ เครื่องมือที่มี : Oscilloscope, เครื่องวัดความถี่ (Digital Counter), มัลติมิเตอร์แบบดิจิตอล ฉันจะใช้เครื่องมือเหล่านี้เพื่อทดสอบผลึกในบอร์ดได้อย่างไร หมายเหตุ : ควรพิจารณาผลกระทบการโหลด capacitive ของโพรบ ถ้าไม่การวัดจะไม่แม่นยำหรือแย่กว่านั้นผลึกจะไม่ทำงานเลย แก้ไข 1 : ฉันใช้ทั้งออสซิลโลสโคปและเครื่องวัดความถี่ (ที่มีโพรบ x10) แต่น่าเสียดายที่ไม่มีการตรวจสอบอะไรเลย

12 oscillator  oscilloscope  crystal  test  frequency-measurement 

ฉันมีแผงวงจรในการผลิตส่วนใหญ่ผ่านรูเพื่อปรับแต่ง ~ 400 หน่วยต่อปี แต่ละคนจะถูกตรวจสอบและทดสอบด้วยตนเอง บอร์ดมีรางแรงดันไฟฟ้าที่แตกต่างกันสิบรางแอมป์ข้อเสนอแนะแรงดันไฟฟ้าสี่แอมป์ข้อเสนอแนะในปัจจุบันสามไมโครโปรเซสเซอร์ที่มีลักษณะการตอบสนองโดยเฉพาะและส่วนอื่น ๆ ไม่กี่ นั่นเป็นเรื่องที่ต้องตรวจสอบมาก ฉันกำลังพิจารณาที่จะสร้างแท่นทดสอบอัตโนมัติสำหรับทุกสิ่ง ฉันคิดว่า PCB ที่ดึงข้อมูลสิ่งเร้าที่เหมาะสมสังเกตการตอบสนองและการให้ go / no-go จะช่วยฉันประหยัดเวลาได้มาก ฉันมีความมั่นใจพอสมควรว่าจะทำเช่นนี้โดยทั่วไป อย่างไรก็ตามเทคนิคที่ใช้ในการทำมันไม่เป็นที่รู้จักสำหรับฉัน ฉันจินตนาการถึงแท่นทดสอบพร้อมแผงวงจรที่มีรอยเท้าเดียวกับหน่วยที่ทดสอบ (UUT) มันจะมีไมโครโปรเซสเซอร์, การป้องกันที่เหมาะสมและวงจรการปรับขนาดและหมุดแนวตั้งจำนวนมากยื่นออกมาจากบอร์ด จุดที่เมาท์จะติดจากแท่นทดสอบสำหรับ UUT เมื่อติดตั้ง UUT ที่ด้านบนของแท่นทดสอบด้านล่างของบอร์ดสัมผัสกับหมุดแนวตั้งทำให้แท่นทดสอบสามารถป้อนแรงกระตุ้นต่อ UUT และสังเกตการตอบสนอง ดูเหมือนจะสมเหตุสมผลและฉันมีความคิดว่าฉันเคยเห็นบางอย่างเช่นนี้มาก่อน แต่รายละเอียดหลบหลีกฉัน หมุดประเภทใดที่จะใช้บนกระดานด้านล่าง (หมายเลขชิ้นส่วนนั้นยอดเยี่ยมมาก!) ฉันต้องใส่คะแนนทดสอบประเภทเฉพาะลงใน UUT หรือฉันจะออกไปโดยติดต่อกับหมุดที่ยื่นออกมาทางบอร์ดหรือไม่ มีข้อกังวลอื่น ๆ อีกไหมที่อาจเกิดขึ้น?

11 pcb-design  test  production-testing  test-equipment 

ฉันเพิ่งซื้อมัลติมิเตอร์ราคาถูก ฉันเล่นไปรอบ ๆ การวัดสิ่งต่าง ๆ บนวงจรง่าย ๆ และฉันคิดว่าฉันสามารถทำลายมันได้เนื่องจากฉันไม่สามารถวัดกระแสได้อีกต่อไป (มักจะได้รับแอมแปร์เป็นศูนย์เสมอถึงแม้ว่าแรงดันไฟฟ้าความต้านทานและส่วนที่เหลือก็ใช้ได้ดี) ฉันไปรอบ ๆ และพบว่าไม่ใช่เรื่องแปลกสำหรับผู้เริ่มต้นที่จะเป่าฟิวส์มัลติมิเตอร์เมื่อพยายามวัดกระแสผิดทาง ฉันคิดว่าฉันตกอยู่ในหมวดหมู่นี้ แม้ว่าฉันต้องการจะยืนยันดังนั้นฉันจึงนำฟิวส์ออกจากมัลติมิเตอร์ ฉันไม่แน่ใจว่าฟิวส์ที่เสียหายควรมีลักษณะอย่างไร แต่ก็ไม่ได้ดูแตกมันสวยและใสและมองเห็นเส้นลวดที่ละเอียดมาก มีความยาวประมาณ 2 ซม. และเขียนไว้ที่F200mAL250Vซึ่งฉันคิดว่ามันเป็นฟิวส์ 200mA ที่เร็วที่สุดสำหรับ 250V ฉันสามารถใช้มัลติมิเตอร์ของฉันเพื่อตรวจสอบว่าฟิวส์แตกหรือไม่? ฉันควรใช้โหมดการวัดแสงแบบใดสำหรับฟิวส์นี้โดยเฉพาะและฉันควรมองหาอะไร

11 multimeter  test  fuses 

แม้ว่าอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์จะปิดอยู่ แต่มีความเสี่ยงที่จะทำการทดสอบความต่อเนื่องของการเชื่อมต่อที่อยู่ตรงกลางของวงจรหรือไม่? ฉันหมายความว่าคุณใช้แรงดันไฟฟ้าทำเช่นนั้น - นั่นไม่เป็นอันตรายต่อส่วนประกอบหรือไม่ หรือแรงดันไฟฟ้าต่ำเกินไปหรือไม่

10 test  testing 

แม้ว่ามันจะดูเหมือนว่านี่ไม่ใช่ SE ที่ถูกต้องสำหรับเธรดนี้เนื่องจากมันเกี่ยวกับการสร้างอัลกอริทึม แต่ปัญหาคือเกี่ยวกับการหาวิธีการที่เป็นระบบเพื่อทำให้การลดความซับซ้อนของวงจรต้านทานขนาดใหญ่ตามอำเภอใจของรูปแบบนั้น ๆ ที่ทำงานเรามีกางเกงขาสั้นหลายชิ้นภายในอุปกรณ์ แต่เราไม่รู้ว่าอยู่ที่ไหน อุปกรณ์เป็นกล่องดำที่ไม่สามารถเปิดได้ ฉันใช้มัลติมิเตอร์ของฉันและเติมเมทริกซ์ของความต้านทานในแต่ละชุดของเทอร์มินัลที่มีให้ สิ่งที่ต้องการ: อย่างที่คุณทราบการวัดเหล่านี้ไม่มีความหมายเพราะครอสคัปปลิ้งกับเทอร์มินัลอื่น ฉันต้องการรู้ว่าอวนเชื่อมต่อกันอย่างไร - กล่าวอีกนัยหนึ่งฉันต้องการคำนวณค่าของความต้านทานที่แสดงในวงจรสมมูลต่อไปนี้ (ตัวอย่างสำหรับ N = 4) จำลองวงจรนี้ - แผนผังที่สร้างโดยใช้CircuitLab มี: การวัดและ: ความต้านทานที่ไม่รู้จักดังนั้นจึงเป็นไปได้ เพื่อแก้ปัญหาวงจรทั้งหมดตามตารางที่แสดงด้านบนด้วยอัลกอริทึมต่อไปนี้:Σi = 1ยังไม่มีข้อความ- 1( i - 1 )∑i=1N−1(i−1)\sum_{i=1}^{N-1}(i-1)Σi = 1ยังไม่มีข้อความ- 1( i - 1 )∑i=1N−1(i−1)\sum_{i=1}^{N-1}(i-1) สำหรับการวัดแต่ละครั้งทำให้ Rij โดยที่ i และ j เป็น 0 ... N คำนวณสูตรของความต้านทานที่เท่ากันของวงจรระหว่างเทอร์มินัล …

9 resistors  circuit-analysis  test  algorithm 

ฉันใช้คริสตัล SMD 32.768 kHz ( แผ่นข้อมูล ) สำหรับ MCU นี่คือส่วนเลย์เอาต์ของคริสตัล นี่คือมุมมองจาก PCB จริง ฉันประกอบชิ้นส่วนด้วยมือบัดกรีและผลิตประมาณ 30 โมดูล คริสตัลส่วนใหญ่ไม่ได้เริ่มทำงานตั้งแต่เริ่มต้น แต่ฉันแก้ไขได้โดยการบัดกรีคริสตัลอีกครั้งโดยใช้การบัดกรีที่เพิ่มขึ้นอีกเล็กน้อย สิ่งที่น่าสนใจคือเมื่อฉันจับเข็มของคริสตัลโดยแหนบคริสตัลจะเริ่มทำงาน นี่คือมุมมองของสัญญาณออสซิลโลสโคป ความผิดพลาดคือที่ที่ฉันสัมผัสทางโดยแหนบจากนั้นการสั่นจะเริ่มขึ้น ความจริงก็คือว่าบางส่วนของคริสตัลทำงานถ้าฉันสัมผัสกับเส้นทางของหมวก C451 บางคนเริ่มทำงานถ้าฉันสัมผัสกับเส้นทางของ C441 cap (เช่นถ้ามันทำงานโดยการสัมผัสเส้นทางหมวก C451 มันไม่ทำงานถ้าฉันสัมผัส ไปที่เส้นทางของ C441 cap) ทำให้ฉันสงสัยว่ามันเกี่ยวข้องกับการบัดกรีใต้คริสตัล (อาจเป็นพื้นผิวสัมผัสที่ไม่เรียบหรือเหตุผลอื่นที่ฉันไม่สามารถนึกได้) หรือหากไม่ใช่ปัญหาที่เกี่ยวข้องกับการบัดกรีอย่างสมบูรณ์เพราะบางครั้งฉันจำเป็นต้องดำเนินการบัดกรีอีกหลายครั้งจนกระทั่งปัญหาคริสตัลได้รับการแก้ไข จากมุมมอง PCB ข้างต้นการบัดกรีพิเศษจะพุ่งออกมาจากด้านข้างของคริสตัล (ไม่มีการลัดวงจรไปยังแผ่นอื่นหรือกล่องของคริสตัล) ควรจะมีการเชื่อมต่อระหว่างพินของคริสตัลและแผ่น PCB แต่ปัญหายังคงอยู่ ซากศพ อีกประเด็นหนึ่งคือฉันพบกับบอร์ด 4 บอร์ดที่พวกเขาทำงานหลังจากที่ฉันประสานบัดกรีซ้ำอีกครั้ง แต่เมื่อฉันทดสอบพวกเขาในวันถัดไปคริสตัลก็มีปัญหาเดียวกัน คำถามที่ 1มีใครประสบปัญหาที่คล้ายกันหรืออาจคิดว่าสิ่งที่เป็นปัญหาจริงหรือไม่? คำถามที่ …

9 soldering  pcb-fabrication  crystal  pcb-assembly  test